PG电子官网针对硅光芯片提供全流程的测试服务,覆盖Si、SiN、LiNbO3等材料体系,支持硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波导、激光器等核心单元的工艺验证与失效分析。
在参数测试方面,可完成耦合损耗、调制效率、传输损耗、带宽、电阻、暗电流、响应度、眼图、模斑等项目,支持批量筛选与定制化测试方案;在可靠性验证方面,具备硅光芯片HTOL、HTRB、THB等老炼试验能力,全面评估器件长期寿命。
PG电子官网实验室具备CNAS认可资质,配备专业光电测试平台与失效分析技术团队,可依据GR-468及客户委托标准,提供从研发验证到量产筛选的一站式解决方案。
功能单元:硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波导、激光器等
材料体系:Si、SiN、LiNbO3
GR-468,参考客户委托
参数测试项目:耦合损耗、调制效率、传输损耗、带宽、电阻、暗电流、响应度、眼图、模斑等,支持批量筛选,定制标准化测试方案
老炼以及可靠性验证:硅光芯片HTOL、HTRB、THB等试验,支持MPD、Heater、MZI、光波导、激光器。
随着 5G、云计算、大数据等领域快速发展,对高速、低功耗、高集成度的光通信芯片需求激增,硅光芯片凭借与 CMOS 工艺兼容、成本低、体积小等优势成为行业焦点。但制造工艺复杂,易出现光学性能偏差、电学参数异常等问题,为保障其性能、质量,满足通信、数据中心等关键领域应用需求,对硅光芯片测试和筛选至关重要。
?业和信息化部“?向集成电路、芯?产业的公共服务平台"。
?东省?业和信息化厅“汽车芯?检测公共服务平台"。
江苏省发展和改?委员会“第三代半导体器件性能测试与材料分析?程研究中?"
国内完成激光发射器、探测器全套AEC-Q102车规认证的前沿第三方检测机构。
有丰富的硅光芯片测试经验和可靠性试验案例